一台典型的光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分:1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上,如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。3. 色散元件: 通常采用光栅,上海光谱仪,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。5. 探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。
X射线荧光光谱仪 -简介:
一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12~92的所有元素,选择性高,分析微量组分时受基体的影响小,四川光谱仪,在地质、采矿和冶金等部门应用很广。
X射线是用高速电子轰击原子的内层电子,使之处于高激发状态,同时外层的电子跃迁到缺少电子的内层轨道。在此过程中会伴随着以电磁波形式释放的能量。这种释放能量的电磁波能量大,波长小,光谱仪,肉眼不可见,称之为X射线。
如果用高速电子激发产生的X射线又作为激发源(可称之为一次X射线)去轰击别的原子的内层电子,同样可产生X射线,只是这种X射线的能量较一次X射线低,波也较长,这种射线称为二次X射线或X射线荧光、荧光X射线。X射线荧光的波长是以受激物质(待测物质)的原子序数为特征的,原子序数越大的物质波长越短。各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长,这是用X射线荧光原理的X射线荧光光谱仪进行定性分析的依据;而元素受激发射出来的特征X 射线荧光的强度则取决于该元素的含量,这是定量分析的依据。