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全反射荧光

       如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，手持式光谱仪价格，如果介质1是空气，那么α1>α2（图2.20右图），即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，手持能量色散光谱仪，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。

X射线荧光光谱法有如下特点：

分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；

荧光X射线谱线简单，手持x荧光光谱仪，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；

分析浓度范围较宽，光谱仪，从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；

分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。

　　荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。