荧光X射线仪检测原理
1.荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征
*可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
*可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
*薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外,重金属检测仪,适用于无铅焊锡的应用。
*备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
电镀层测厚仪工作原理:
采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,手持式光谱检测仪,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,检测仪,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,卤素检测仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。